離子分子質譜儀工作耐壓值高,脈動小、穩(wěn)定可靠。進樣器與整機分體式模式,具有良好的抗干擾性和可拓展性。接頭、流路均使用進口Peek材料,耐強酸強堿。連續(xù)自動再生電化學抑制器,抑制容量高。高分辨率觸摸屏配有WinCE操作系統(tǒng),以及全中/英文顯示的數據處理系統(tǒng)。
離子分子質譜儀的主要用途:
1.摻雜劑與雜質的深度剖析。
2.薄膜的成份及雜質測定。
3.超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析。
4.硅材料整體分析,包含B,C,O,以及N。
5.工藝工具(離子植入)的高精度分析。
6.可以用于材料表面和表層的化學成份分析?;瘜W元素或化合物在表面和塊體材料內部的分布。以及生物組織表面和內部成份和分布分析。包括如半導體,生物,冶金,汽車等領域。
離子分子質譜儀送樣時注意事項:
1、待測試的樣品表面不能被沾污;
2、易潮解,易與空氣發(fā)生反應的樣品,在送樣過程中應注意隔離空氣;
3、用帶蓋的玻璃小試管、小容量瓶等容器裝樣;不要直接使用塑料容器、塑料袋、含硅的膠帶或膠面和紙袋,以免硅樹脂或纖維污染樣品表面;
4、如為揮發(fā)性高分子樣品或具揮發(fā)性覆膜,務必先自行在真空加熱爐中抽除揮發(fā)性分子;如果樣品置入真空腔后,隔夜無法抽至5X10E-7torr以下,測試將被取消;